年度 | 2011 |
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全部作者 | 李安謙,An-Chen Lee*, Tzu-Wei Kuo and Zeng-Lien Lee |
論文名稱 | Modified Double EWMA Approach for Mixed Product Run-to-Run CMP Process Control |
會議名稱 | International Conference on Advanced Design and Manufacturing Engineering-ADME 2011 |
地點 | Guangzhou, China |
會議期間 | 2011/09/16-18 |
參考連結 | http://www.scientific.net/AMR.314-316.2504 |