年度	2016
全部作者	徐文祥,Shieh, Y.-C., Lin, H.-Y., Hsu, W., and Lin, Y.-H.
論文名稱	A rapid fatigue test method on micro structures for high cycle fatigue
期刊名稱	IEEE Transactions on Device and Materials Reliability
卷數	16
頁碼	61-68
語言	英文