年度 | 2014 |
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全部作者 | 徐文祥,Huang, Y.-T. and Hsu, W. |
論文名稱 | A Simulation Model on Photoresist SU-8 Thickness after Development under Partial Exposure with Reflection Effect |
期刊名稱 | Japanese Journal of Applied Physics |
卷數 | 53 |
頁碼 | 036505- |
發表日期 | 2014-01-01 |
語言 | 英文 |