| 年度 | 2017 |
|---|---|
| 全部作者 | 張存均,Shu-Jui Chang, Po-Chun Chang, Wen-Chin Lin, Shao-Hua Lo, Liang-Chun Chang, Shan-Fang Lee, and Yuan-Chieh Tseng |
| 論文名稱 | Voltage-induced Interface Reconstruction and Electrical Instability of the Ferromagnet-Semiconductor Device |
| 期刊名稱 | Scientific Reports |
| 期刊等級 | SCI |
| 語言 | 英文 |
國立陽明交通大學 機械工程學系