年度	2007
全部作者	吳宗信,T. -C. Cheng, K.-H. Hsu, P.-Y. Chen, W.-J. Huang, J. -S. Wu*, H. T. Hsueh and M. N. Chang
論文名稱	Nanomanipulation measurement and PIC simulation of field-emission properties from a single crystallized silicon nano-emitter
期刊名稱	Nanotechnology
卷數	Vol. 18
頁碼	225503-
期刊等級	SCI
發表日期	2007-05-01
語言	英文
參考連結	http://dx.doi.org/10.1088/0957-4484/18/22/225503