年度	2010
全部作者	張存均,T. W. Chiang, L. J. Chang, C. Yu, S. Y. Huang, D. C. Chen, Y. D. Yao, and S. F. Lee
論文名稱	Demonstration of edge roughness effect on the magnetization reversal of spinvalve submicron wires
期刊名稱	Applied Physics Letters
期刊等級	SCI
語言	英文