年度	2005
全部作者	徐瑞坤（2016年退休）,K. L. Ou,S.Y. Shiou,Ray-Quen Hsu
論文名稱	“Barrier capability of Hf-N Films with Various Nitrogen Concentrations Against Copper Diffusion in Cu/Hf-N/n + -p Junction Diodes ”
期刊名稱	Journal of The Electrochemical Society
卷數	Vol.152(2)
頁碼	1-6
語言	中文