年度 2006
全部作者 金大仁,張耀文
論文名稱 應用不同破壞準則探討IC 卡讀取頭之疲勞壽命可靠度
會議名稱 第二十三屆全國學術研討會
會議期間 2012/04/11 ~ 迄今
主辦單位 中國機械工程學會
語言 英文