年度	1992
全部作者	金大仁(2020年轉任工學院產安專班)/T. Y. Kam
論文名稱	“Detection of Cracks from Modal Test Data Using a System Identiication Approach”
會議名稱	Proc. IEEE Intelligent Cont. & Instru., Singapore, (2), pp. 934-939.
地點	Singapore