年度	2003
全部作者	金大仁(2020年轉任工學院產安專班),T. K. Chung and T. Y. Kam, S. B. Hsieh
論文名稱	“Accelerated Life Testing and Life Assessment of Active Opto-electronic Protective Devices”
會議名稱	The 2003 Annual Conference of Chinese Institute of Industrial Engineers
地點	Taiwan